Advances in X-Ray Analysis: Volume 33
B. K. Tanner (auth.), Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, Paul K. Predecki (eds.)Կատեգորիաներ:
Տարի:
1990
Հրատարակչություն:
Springer US
Լեզու:
english
Էջեր:
685
ISBN 10:
146139998X
ISBN 13:
9781461399988
Ֆայլ:
PDF, 21.59 MB
IPFS:
,
english, 1990