Наноматериалы для радиоэлектронных средств. — Часть 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу «Наноматериалы для радиоэлектронных средств»
Малышев К.В., Башков В.М., Мешков С.А.
В данные методические указания включены лабораторные работы, посвященные экспериментальным исследованиям с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) характеристик наноматериалов, перспективных для радиоэлектронных средств. Во второй части изучается измерение электрических характеристик наноматериалов с помощью СТМ. Для студентов 6-го курса приборостроительных специальностей.
Տարի:
2007
Հրատարակչություն:
Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана
Լեզու:
russian
Էջեր:
42
Ֆայլ:
PDF, 1.25 MB
IPFS:
,
russian, 2007
Litres
Ցանկանու՞մ եք գրախանութ ավելացնել: Խնդրում ենք կապնվել մեզ հետ support@z-lib.do միջոցով
File converter
Բացել որոնման արդյունքները
More benefits 
